用途：適用于國防、、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，高壓壽命老化箱，三綜合試驗機。（源至閩臺，設(shè)備生產(chǎn)，可靠）。
技術(shù)性能指標：
1、溫度范圍：＋110℃～＋132℃。
2、溫度波動度：±0、5℃。
3、溫度均勻度：±1、5℃。
4、濕度范圍：R、H飽和蒸氣。
5、濕度波動度：±1、5%R、H。
6、濕度均勻度：±3、0%R、H。
7、壓力范圍：
相對壓力：+0～2kg/cm2。（注：可生產(chǎn)壓力范圍：+0～3kg/cm2）。
Jue對壓力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全壓力容量：4kg/cm2＝1個環(huán)境大氣壓＋3kg/cm2。
8、循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)。
9、測時間設(shè)置：0～999Hr。
10、加壓時間：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2約30分鐘。
12、升溫時間：由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。
13、溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。
14、試驗內(nèi)箱體積供選擇：
注：
1、在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。
2、關(guān)于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。
3、溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風口處。
4、溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。
5、以上數(shù)據(jù)性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。

試驗箱性能：
1.溫度范圍:100℃~135℃可設(shè)定.
2.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度) 
3.壓力范圍:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue對壓力;(安全壓力容量3Kg/cm2/G=1個環(huán)大氣壓+2Kg/cm2)
4.時間范圍:0~1000H
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升溫時間:RT~121℃約35分鐘內(nèi)
7.加壓時間:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2約35分鐘內(nèi)

試驗箱控制系統(tǒng)：
1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間LED顯示器控制器,壓力+指針式顯示表.
3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
4.控制方式:微電腦控制.  
5.控制精度:(+/-)0.5℃.  
6.解析精度:0.1℃.  
7.壓力精度:(+/-)0.15KG.  
8.循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)方式  
9.溫度感應(yīng)器：（RTD）PT-100Ω(鉑金電阻)  
10.加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器

試驗箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω
高壓加速老化試驗箱詳細說明：
    隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（國際電工會）所標準化。
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