溫度范圍100~+135
包裝木箱
電源220V/380V
顏色烤漆/不銹鋼
濕度100R.H/70~100R.H
高壓加速老化試驗(yàn)箱內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板,圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。Jing密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。自動(dòng)門禁,圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知An全門禁鎖定控制,門把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);
3.MIL-STD810D方法502.2;
4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);
技術(shù)性能指標(biāo):
1、溫度范圍:+110℃~+132℃。
2、溫度波動(dòng)度:±0、5℃。
3、溫度均勻度:±1、5℃。
4、濕度范圍:R、H飽和蒸氣。
5、濕度波動(dòng)度:±1、5%R、H。
6、濕度均勻度:±3、0%R、H。
7、壓力范圍:
相對(duì)壓力:+0~2kg/cm2。(注:可生產(chǎn)壓力范圍:+0~3kg/cm2)。
Jue對(duì)壓力:1、0kg/cm2~3、0kg/cm2。
安全壓力容量:4kg/cm2=1個(gè)環(huán)境大氣壓+3kg/cm2。
8、循環(huán)方式:水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)。
9、測(cè)時(shí)間設(shè)置:0~999Hr。
10、加壓時(shí)間:0、00kg/cm2~2、00kg/cm2約30分鐘。
12、升溫時(shí)間:由常溫升至+132℃約30分鐘非線性空載。
13、溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。
14、試驗(yàn)內(nèi)箱體積供選擇:
注:
1、在無試驗(yàn)負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測(cè)定的性能。
2、關(guān)于溫度上升及下降時(shí)間是指風(fēng)冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時(shí)所測(cè)量的性能。
3、溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風(fēng)口處。
4、溫濕度均勻度定義為:實(shí)驗(yàn)室?guī)缀沃行狞c(diǎn)處,溫濕度時(shí)的所測(cè)之資料。
5、以上數(shù)據(jù)性能,測(cè)量,計(jì)算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測(cè)定。
試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):
1.微電腦飽和蒸氣溫度+時(shí)間LED顯示器控制器,壓力+指針式顯示表.
3.控制對(duì)象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度.
4.控制方式:微電腦控制.
5.控制精度:(+/-)0.5℃.
6.解析精度:0.1℃.
7.壓力精度:(+/-)0.15KG.
8.循環(huán)方式:水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)方式
9.溫度感應(yīng)器:(RTD)PT-100Ω(鉑金電阻)
10.加溫電熱器:絕緣耐壓型溫度電熱器
試驗(yàn)箱性能:
1.溫度范圍:100℃~135℃可設(shè)定.
2.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度)
3.壓力范圍:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue對(duì)壓力;(安全壓力容量3Kg/cm2/G=1個(gè)環(huán)大氣壓+2Kg/cm2)
4.時(shí)間范圍:0~1000H
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%(100℃)
6.升溫時(shí)間:RT~121℃約35分鐘內(nèi)
7.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2約35分鐘內(nèi)
高壓加速老化試驗(yàn)箱目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
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