電源380V
型號ES-3
頻率范圍3-3500HZ
額定正弦推力3000N
包裝木箱
振動試驗臺用途
適用于電子元器件、組件、機電產(chǎn)品、儀器儀表、電子玩具、及食品包裝,等行業(yè)實驗室及生產(chǎn)線上對樣品進行低頻振動試驗。如品質(zhì)鑒定試驗,可靠性鑒定試驗,耐久試驗,疲勞試驗,振動防治改善等。模擬產(chǎn)品在制造、組裝、運輸及使用過程中所遭受的振動環(huán)境,以評定其結構的耐振性、可靠性和完好性。
振動試驗臺主要參數(shù):
1.型號:ES-3;
2.動轉速度:60-300RPM(轉/分鐘)可調(diào);
3.速度顯示精度:1RPM(轉/分鐘);
4.振動方式:往復式;
5.振幅(P-P):25.4mm(英寸);
6.載重:70kg;
7.有效臺面:1.2*1.1m(長*寬);
8.時間設定范圍:0seconds秒~99hour小時;
9.電機功率:1HP;
10.調(diào)速方式:直流調(diào)速;
11.總重230KG;
12.電源:220V50Hz
振動試驗臺技術參數(shù):
1、頻率范圍:50HZ、1-600HZ、1-3000HZ、1-5000HZ
2、上下左右同一臺面臺體尺寸500×500×450:mm
上下左右前后同一個臺面臺體尺寸500×500×600:mm
3、振動波形:正弦波(半波/全波)
4、振動臺面尺寸500×500×10:mm
5、振幅范圍:0~4mm
6、大加速度:<15g
7、承重量:75kg/60kg
8、時間設定范圍:1-65000S
9、運行次數(shù):1-65000次任意設定
10、頻率可顯示到0.01Hz、精密度0.1Hz
11、電源電壓:AC220V/50HZ、AC380V/50HZ
振動試驗臺產(chǎn)品功能:
1.調(diào)頻功能:在頻率范圍內(nèi)任意設定頻率。
2.掃頻功能:(上限頻率/下限頻率/時間范圍)可任意設定。
3.可程式功能:任意調(diào)整1~15段每段可任意設定(頻率/時間)可循環(huán)。
4.對數(shù)功能:①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。
5.倍頻功能:任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加,①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。
6.顯示振幅加速度:如需看出振幅、加速度、大加速度、準確數(shù)值需另購測量儀(另購)。
7.全功能電腦控制:485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦(另購)。 注:定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。
振動試驗臺的5大主要功能
1、振動試驗臺的定頻功能:我們可以在頻率范圍以內(nèi)任意設定單組試驗頻率;
2、設備的掃頻功能:能頻率范圍以內(nèi)任意設定上限頻率、下限頻率以及周期的時間,然后進行循環(huán)掃頻試驗;
3、振動試驗臺的倍頻功能:在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成倍的來進行循環(huán)試驗;
4、設備的對數(shù)功能:在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成對數(shù)的形式來進行循環(huán)試驗;
5、振動試驗臺的可程式功能:能在頻率范圍以內(nèi)將不同的固定頻率及時間分段編程試驗一共有15段。
振動試驗臺是用于在實驗室內(nèi)模擬真實振動環(huán)境效應的試驗設備,振動試驗是在振動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機振動,由于兩者的物理過程不同,在兩者之間沒有嚴格的等效關系,所以在選擇試驗方式時,切勿進行正弦到隨機的嚴酷度等級轉換。
正弦振動試驗使用固定或變化的頻率和幅值的正弦信號,在每一瞬間時僅施加一個頻率,試驗條件包括頻率范圍或固定頻率、振幅和試驗持續(xù)時間。
真實環(huán)境中正弦振動很少一單一頻率的振動形式立出現(xiàn)。即使在旋轉的機械上直接測量加速度時也是這樣。如齒輪和軸承,實際存在的公差和間隙,通常導致在頻率上有微小的變化。旋轉機械的隨機特性也會發(fā)生某種形式的隨機振動。
正弦振動可以描述為確定性運動,遵循確定的規(guī)律,完全可以從過去的狀態(tài)來確定未來任意時間的狀態(tài)。在進行正弦掃頻試驗過程中,改方法通常用來確定出現(xiàn)失效的時刻,因為這個失效很可能是和特定頻率密切相關的,而用隨機振動試驗試驗方法這種相關效果不是很明顯。當然,相對于隨機試驗方法,正弦試驗方法通常需要用更長的時間激發(fā)出失效,這是因為每次掃頻過程中,在每個共振點上只作用很短的時間。盡管在任一時刻只施加一個頻率,如果掃頻速率足夠慢,確實可以使得樣品的特定共振峰達到大。也可以用來發(fā)現(xiàn)潛在的破壞性共振點,尤其是在設計和研制試驗中。
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