振動試驗臺是根據(jù)載流導(dǎo)體在磁場中受力而發(fā)生運動的原理，采用的機(jī)械結(jié)構(gòu)和的工藝制作，主要特點為：磁路采用雙磁路強磁場結(jié)構(gòu)，動圈采用無骨架繞組，動圈支撐系統(tǒng)采用懸臂支架和空氣彈簧支撐，功放采用的開關(guān)放大電路，系統(tǒng)保護(hù)功能齊全，采用智能式控制，冷卻形式為強迫風(fēng)冷。振動試驗臺各項技術(shù)指標(biāo)均符合GB/T13310-91《電動振動臺技術(shù)條件》和企標(biāo)Q/320502SN001-2007《DV、DC系列電動振動試驗系統(tǒng)》的要求。
振動試驗臺特點
1、數(shù)字顯示振動頻率；
2、同步靜噪皮帶傳動，噪聲及低；
3、試件夾裝采用導(dǎo)軌式，操作方便，；
4、機(jī)臺底座采用重型槽鋼配減振膠墊，安裝方便，運行平穩(wěn)；
5、回轉(zhuǎn)式振動（俗稱跑馬臺）符合及國際運輸標(biāo)準(zhǔn)；

振動試驗臺產(chǎn)品功能：  
1.調(diào)頻功能：在頻率范圍內(nèi)任意設(shè)定頻率。  
2.掃頻功能：（上限頻率/下限頻率/時間范圍）可任意設(shè)定。  
3.可程式功能：任意調(diào)整1~15段每段可任意設(shè)定（頻率/時間）可循環(huán)。  
4.對數(shù)功能：①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。  
5.倍頻功能：任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加，①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。  
6.顯示振幅加速度：如需看出振幅、加速度、大加速度、準(zhǔn)確數(shù)值需另購測量儀（另購）。  
7.全功能電腦控制：485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦（另購）。  注：定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。

振動試驗臺產(chǎn)品特點：
1．精密型設(shè)計制造、體積小、超靜音工作
2．機(jī)臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進(jìn)口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調(diào)節(jié)功能，使設(shè)備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實時同步顯示，無須人工干預(yù)。（各種控制條件，可于運轉(zhuǎn)中監(jiān)視之）
5．內(nèi)嵌式振幅預(yù)測程序及調(diào)幅容易
6．四點同步激振，臺面振動均勻
7．無級調(diào)整振幅，定頻及掃頻操作功能適應(yīng)不同行業(yè)多種試驗要求
8．增加抗干擾電路,解決因強電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制

振動試驗臺主要參數(shù)：
1.型號：ES-3; 
2.動轉(zhuǎn)速度：60-300RPM（轉(zhuǎn)/分鐘）可調(diào); 
3.速度顯示精度：1RPM(轉(zhuǎn)/分鐘); 
4.振動方式：往復(fù)式; 
5.振幅（P-P）：25.4mm(英寸); 
6.載重：70kg; 
7.有效臺面：1.2*1.1m（長*寬）; 
8.時間設(shè)定范圍：0seconds秒~99hour小時; 
9.電機(jī)功率：1HP; 
10.調(diào)速方式：直流調(diào)速; 
11.總重230KG; 
12.電源：220V50Hz
振動試驗臺使用方法
1、將機(jī)臺置于平整之地面，防振膠墊應(yīng)落實而不會出現(xiàn)前后、左右晃動，將機(jī)臺電源接牢。機(jī)器電機(jī)為兩 相電機(jī)，請與供電電源接牢；
2、打開機(jī)器電源開關(guān)，將試驗所需時間設(shè)定好：HMS依次為H小時、M分鐘、S秒；表盤上‘+、—’，依序 將數(shù)字1-9拔到所需檔；
3、調(diào)動高速旋扭相應(yīng)轉(zhuǎn)速在顯示表上顯示，目視機(jī)臺運行轉(zhuǎn)正常，將轉(zhuǎn)速調(diào)低，關(guān)掉電源；
4、將試件置于工作臺面，移動活動圍欄將試件固定于臺面位；
5、打開機(jī)臺電源，重啟機(jī)臺，調(diào)整相應(yīng)轉(zhuǎn)速，待試驗時間到達(dá)設(shè)定時間后，停機(jī)檢驗試件；
6、如需按ISTA-IA國際運輸標(biāo)準(zhǔn)做測試，則需用隨機(jī)附帶之標(biāo)配塊置于試件（被測包裝件）下部，當(dāng)機(jī)臺運行速度達(dá)到300rpm時，用手將標(biāo)準(zhǔn)塊從試件一側(cè)順利地推過試件底部；
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